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GTEM500小室構(gòu)成的輻射敏感度（抗擾度）測(cè)試系統(tǒng)為小型電子產(chǎn)品的輻射電磁場(chǎng)干擾敏感性提供有力的測(cè)試依據(jù)。測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)成：主要由標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源、功率放大器、場(chǎng)強(qiáng)監(jiān)視器、計(jì)算機(jī)及操控軟件和GTEM 室體組成。
GTEM500小室
PA3000 1月4日 0.04% 讀數(shù) + 0.04% 范圍 600 Vrms CAT II (2000Vpk) 30 Arms 直流到 1 MHz US $7,250
4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 對(duì)于兩端和三端設(shè)備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：4200A-SCS 參數(shù)分析儀 (2) 4200-SMU 模塊 (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備
4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件 "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 對(duì)于高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：
4200A-SCS 參數(shù)分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備"
4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 對(duì)于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：對(duì)于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：
4200A-SCS 參數(shù)分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(2) 4210-SMU
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備"
4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 "用于使用* CMOS 技術(shù)套件進(jìn)行復(fù)雜的 NBTI 和 PBTI 測(cè)量 4200-BTI-A 包括： (1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊
(2) 4225-RPM 遠(yuǎn)程前置放大器/開(kāi)關(guān)模塊
自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 軟件
超快 BTI 測(cè)試項(xiàng)目模塊
電纜"
BSX125 1 12.5 Gb/s 128/2 - 配置與報(bào)價(jià)
BSX240 1 24 Gb/s 128/2 - 配置與報(bào)價(jià)
BSX320 1 32 Gb/s 128/2 - 配置與報(bào)價(jià)
CR125A 時(shí)鐘恢復(fù)儀器 12.5 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
CR175A 時(shí)鐘恢復(fù)儀器 17.5 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
CR286A 時(shí)鐘恢復(fù)儀器 28.6 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
PED3201 1 通道誤碼檢測(cè)器 32 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
PED4001 1 通道誤碼檢測(cè)器 40 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
PED3202 2 通道誤碼檢測(cè)器 32 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
PPG1251 1 通道可編程碼型發(fā)生器 12.5 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
PPG1601 1 通道可編程碼型發(fā)生器 16 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
PPG1602 2 通道可編程碼型發(fā)生器 16 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
PPG3001 1 通道可編程碼型發(fā)生器 30 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)
PPG3201 1 通道可編程碼型發(fā)生器 32 Gb/s - 配置與報(bào)價(jià)