服務(wù)熱線(xiàn)
400-617-8668
GTEM 250A-SAE小室/ TEM小室
帶有特殊開(kāi)口的測(cè)試單元，用于測(cè)試集成電路約。45毫米隔膜高度
符合IEC / EN 61000 - 4 - 20、SAE j752 / 3、IEC 62132 - 2和IEC 61967 - 2
100瓦輸入功率
高達(dá)18 GHz的甚高頻
GTEM 250A-SAE小室/ TEM小室
GTEM (千兆赫橫向電磁)單元是用于在單個(gè)可控和屏蔽環(huán)境中有效地執(zhí)行輻射抗擾度和發(fā)射測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)。與其他測(cè)試點(diǎn)相比，GTEM測(cè)試速度快，準(zhǔn)確度高，重現(xiàn)性好。
原則上，GTEM單元是一條共軸線(xiàn)，呈錐形擴(kuò)展，阻抗為50ω。在它的末端，該線(xiàn)路由端接電阻器和RF吸收器的組合端接，該組合端接電阻器和RF吸收器被設(shè)計(jì)和構(gòu)造成與上述阻抗匹配。
teseq為GTEM 250 a - SAE提供了一個(gè)具有出色VSWR的小區(qū)，用于改善整個(gè)頻率的測(cè)試。
參數(shù)值
麥克斯。隔膜高度
250毫米
標(biāo)記位置處的隔膜高度
217毫米
尺寸( LxH )
1.25 x 0.65 x 0.45 m
重量
45公斤